光电技术在微小颗粒测量中的应用

光电技术在微小颗粒测量中的应用

SUN Hao

(College of Electrical Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China)

虽然测量微小颗粒的方法很多，如显微镜法、沉降法等，但是用光学的方法测量具有更多优点：　　(1)由于光的透射性，可以实现非接触测量；(2)光电转换频响时间很短，且可与计算机配合使用；(3)对被测微小颗粒的物理特性(密度、粘度等)要求低；(4)适用固体、液体及气体。　　本装置用光学中光的夫琅和费衍射现象测量颗粒。根据夫琅和费衍射的理论，当一束平行光照射到测量区中的颗粒群时，便会产生光的衍射现象，因此，衍射光的强度分布与测量区中被照射的颗粒直径和颗粒数有关。图1是微小颗粒测量的示意图。

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