JTAG调试接口电路图设计

JTAG调试接口电路图设计

TDI：JTAG指令和数据寄存器的串行数据输入端。TAP控制器的当前状态以及保持在指令寄存器中的具体指令决定对于一个特定的操作由TDI装入哪个寄存器。在TCK的上升沿时刻，TDI引脚状态被除数采样，结果送到JTAG寄存器组。

TDO：JTAG指令和数据寄存器的串行输出端。TAP控制器的当前状态以及保持在指令寄存器中的具体指令决定对于一个特定的操作哪个寄存器的内容送到TDO输出。对于任何已知的操作，在TDI和TDO之间只能有一个寄存器（指令或数据）处于有效连接状态。TDO在TCK的下降沿改变状态，并且只在数据通过器件移动过程中有效。该引脚在其它的时间处于高阻状态。

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