超声波无损检测系统的A/D与ARM接口设计

网友投稿 364 2022-10-27

超声波无损检测系统的A/D与ARM接口设计

1 芯片选型

1.1 S3C2410处理器

在超声波无损检测系统中,超声波探头的频率一般是2~10 MHz。取探头频率为5 MHz,根据采样定理,采样频率最好是探头频率的5~8倍,因此A/D芯片选用AD公司的AD9283,它的最大采样速率达100 MHz,可以满足系统要求。

常用被测物厚度为10 mm,当信号长度取前8个波峰,整个系统工作在极限频率100 MHz的情况下,有如下计算:

采样次数=采样速率×时间

=采样速率×(2×厚度×8/超声波速度)

=100×2×0.01×8/5 900

=2 712次

即需要将近3 KB的缓存。该超声波测厚系统最大需测量厚度50 mm的物体,故需要容量15 K×8 B的FIFO。因此FIFO的深度要大于15 KB;宽度大于A/D的位数,即大于8位;最大工作速率100 MHz,与A/D采样速率相一致。该设计选用CY公司的FIFO存储器CY7C4261,其最大采样速率达100 MHz,与AD9283最大采样速率相同;容量为16 KB×9 B,可以满足数据量要求。

2 接口设计

3 时序设计

通过两个与门分别对A/D和FIFO的写时钟进行控制。因为AD9283从模拟输入开始到该次转换的数据出现在输出口上需要4个时钟周期,并且在高速度采样时导线的延时效果会非常明显,若把A/D和FIFO的时钟连在一起,很可能过多地采到无效数据。分开控制以后,通过软件延时,可以方便地分别对A/D和FIFO的时钟进行控制。调试起来相当方便,力图把采到无效数据的位数减至最低。AD9283的工作时序如图2所示,CY7C4621写时序图如图3所示。

在中断中,ARM首先迅速关闭采样脉冲信号(使TOUTl和TOUT2)的输出为0,停止A/D和FIFO的工作。ARM外部时钟信号CLKOUTO与FIFO的读输入RCLK接在一起,ARM每执行一次I/O读操作,cLKOUT0便向RCLK发出一脉冲。把FIFO读使WEN1能和WEN2置为低,同时连续执行16 K次I/O读操作,数据便依次从CY7C4261送入S3C2410系统,整个数据采集工作就此完成。在进行每一次数据的采集前,将CY7C4261先复位,把S3C24-10的nRSTOUTl配置为通用输出口,给CY7C4261的RS引脚输入一个不小于10 ns的低脉冲,即在ARM的nRSTOUTl引脚输出一个低脉冲。这样可以更充分地保证FIFO的读、写指针的稳定。

4 数据采集流程

超声波测厚系统数据采集工作流程主要包括ARM初始化、输入激励脉冲、使能外部中断、时钟送入A/D、FIFO、等待中断。停止A/D及FIFO,ARM读数据,复位FIFO。流程图如图4所示。

5 结语

通过实际设计在基于ARM的超声波无损检测系统中,采用FIFO可以使高速A/D与ARM处理器之间得到很好的无缝连接,解决两者之间不匹配的问题。通过软件设置,可以灵活调整A/D,FIFO及ARM的操作时序,调试简便,保证了数据采集的安全可靠。该接口电路简单,灵活高效,具有很高的应用价值。

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